Díjazás éve: 2025
mérnök-fizikus, a Semilab Félvezető Fizikai Laboratórium Zrt. Optikai Méréstechnológia Divízió vezető-helyettese
1980-ban született Gödöllőn. 2004-ben mérnök-fizikusként diplomázott a BME Természettudományi Karán, majd ugyanitt 2009-ben PhD fokozatot szerzett. Doktori kutatómunkáját az MTA Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézetében végezte, melynek során a kifejlesztett félvezető nanoszerkezetek elektromos és optikai tulajdonságait vizsgálta. 2010 óta dolgozik a Semilab Zrt.-nél, jelenleg mint az Optikai Méréstechnológia Divízió vezető-helyettese. Vezető szerepet játszott több automata optikai mérőkészülék család kifejlesztésében és nemzetközi bevezetésében, így a magyarországi spektroszkópiai ellipszométer-gyártás kiépítésében, illetve az automatizált infravörös spektrométer félvezetőipari alkalmazásának sikerre vitelében. E termékek világszinten megkerülhetetlenek a szilícium és szilícium karbid alapanyaggyártás és elektronikai integráció során használt szerkezetek minősítésében. Több hazai és külföldi egyetemmel alakított ki szakmai együttműködést, alapítója a Semilab szegedi fejlesztői csoportjának. Számos félvezetőipari, nemzetközi kutatás-fejlesztési projekt résztvevője, 70 tudományos közlemény szerzője, és egyik feltalálója a “Továbbfejlesztett rendszer és módszer spektrometriai méréshez” című szabadalmi bejelentésnek. Köztestületi tagja az MTA Műszaki Tudományok Osztályának.
A félvezetőipari termékek vizsgálatához, minősítéséhez használható infravörös automata spektroszkóp kifejlesztéséért, annak gyártása és használata alapján elért nemzetközi szakmai sikereiért, valamint az anyagtudományi vizsgálatokra, illetve elektronikai gyártásközi ellenőrzésre alkalmas ellipszometriai hardver és szoftver fejlesztéséért.