Díjazás éve: 2019
okleveles vegyész, közgazdász, a Technoorg Linda Tudományos Műszaki Fejlesztő Kft. ügyvezetője és alapítója
Kaposváron születetett 1949-ben. Kiváló eredménnyel végzett 1974-ben az ELTE TTK Vegyész Szakán. Az MTA Műszaki Fizikai Kutató Intézet tudományos munkatársa 1982-ig. 1982-85-ig a Mikroelektronikai Kormányprogram irányításában vett részt. 1984-től már barátaival vállalkozásba kezdett és ez a tevékenysége is szorosan kötődött a K+F területhez. 1985-89-ig az Országos Műszaki Információs Központ és Könyvtár keretein belül a K+F és licence információs rendszer vezetője.1989-ben közgazdász diplomát is szerzett. 1990-ben két kutató intézettel és több nemzetközi hírű tudóssal összefogva megalapította a Technoorg Linda Kft-t, amelynek azóta is vezetője. Az elmúlt 30 év fejlesztései főként az elektron-mikroszkópos mintapreparálás területére, a nanorészecskék különböző paramétereinek mérésére, mini-lézerek és egyéb lézer applikációk fejlesztésére – mint például a digitális holografikus interferometrián alapuló deformáció és feszültségmérés – fókuszált. Szakmai vezetésével és a részvételével létrejött szabadalmakra támaszkodva állt elő az ionsugaras minta-előkészítő berendezések egy új családja, mely a világon a legmagasabb elvárásoknak is képes egyedülállóan megfelelni a pásztázó és transzmissziós elektronmikroszkópia világában. Jelenleg több mint 10 K+F projekt műszaki-szakmai vezetését végzi hozzájárulva a jövő évtized szakmai és üzleti sikereihez. Látásmódja egyedülálló, melyet mindig a nagy ötletek gyakorlatban való hasznosítására való törekvés jellemzett. 28 tudományos cikk nemzetközi folyóiratokban, több mint 35 nemzetközi konferencián való részvétel, 4 nemzetközi szabadalom, és közel 20 sikeresen lezárt K+F pályázat fémjelzi munkásságát.
A díjat a közel negyven éves sikeres kutatói és innovációs üzleti munkásságáért vehette át, melyet olyan eredmények fémjeleznek, mint az argon ionos minta-előkészítő eszközök több generációjának kifejlesztése és piacra vitele vagy a digitális holografikus interferometrián alapuló deformáció- és feszültségmérő eszközök több változatának kifejlesztésében játszott jelentős szerep. Ezen felül számos olyan eszköz kifejlesztésében és piacra vitelében vállalt központi szerepet, melyek nagymértékben előrelendítették az anyagtudomány, a félvezető-gyártás, az elektronika és egyéb, az elektronmikroszkópiához köthető területek mérési és ellenőrzési lehetőségeit.